第二次 "生成式 AI 及資料探索" 作業
繳交日期 5月16 日上午十點之前,上傳方式:提供網頁鏈結,貼到 iClass 測驗中。
報告下列材料分析儀器方法的:功能、物理原理、發展歷史、重要公式
XRD STM EDS XPS AFM EELS UV-vis IR Raman PL TEM SEM NMR 各種 "光學顯微鏡"
XRD
STM
EDS
XPS
AFM
EELS
UV-vis
IR
Raman
PL
TEM
SEM
NMR
各種 "光學顯微鏡"